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IR-2双波段发射率测量仪(样品温度由-100℃至600℃)

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I R-2双波段发射率测量仪可在航天航空红外隐身、红外烘烤、建材、造纸、纺织等行业用于对材料红外辐射特性的测量研究。

发射率是材料热物性的基本参数之一。近几年来随着红外技术、辐射传热学、辐射测量、太阳能研究、材料科学以及军事目标稳身技术的发展。      新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理,即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。它能测量常温样品在3μm-5μm,8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。当有特殊需要时,它可通过专用的控温装置在-100℃~600℃任何温度范围内加热或冷却样品,从而对样品进行发射率变温测量。

特点:

1.仪器中装有小型标准黑体辐射源和六位高精度微机控温仪(能显示到1mK)不仅使它具有稳定的宽光谱测量范围,而且还极大地提高了其在测量时的可靠性和稳定性。

2.采用独特的光学调制技术,测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。

3.为了确保仪器的测量精度,在仪器设计中,考虑到样品漫反射引起的测量误差,除镜反射(MR)探通道外,还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道。

4.在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术,较好地实现了对微弱信号的探测,进一步提高了仪器性能。

5.操作简单,使用方便,测量速度快。

6.可按需更换滤光片,在多个红外光谱波段内进行测试。

7.在测量过程是不会损伤被测样品。

8.带RS-232串口及复位键RST。

主要技术指标:

1.测量波段3~5μm,8~14μm、1~22μm(若用户有特殊要求,可定制不同波段滤光片)

2.发射率测量范围:0.1~0.99

3.灵敏度NE△ε:0.001

4.示值误差:±0.02(ε>0.50)

5.重复性:±0.01

6.样品温度:常温(-100~600

7.样品尺寸:直径≥50mm

8.测量时间:3秒

9.显示方法:LED数字显示,末位0.001

10.电源:交流22V  50Hz

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